方塊電阻測試儀  四探針方塊電阻測試儀 半導體方塊電阻測量儀  

型號:DL10-GT14-ST-21

詳細說明

方塊電阻測試儀是四探針方塊電阻測試儀中的新一代產(chǎn)品，是一種依照類似國家標準和美國A.S.T.M標準而設計，專門測量半導體方塊電阻（或稱薄屋電阻、面電阻，單位Ω/□）的新型儀器。可用于測量一般半導體材料、導電薄膜（如ITO透明導電氧化膜）……等同類物質(zhì)的薄層電阻。

該儀器以大規(guī)模集成電路為主要核心；用基準電源和運算放大器組成高精度穩(wěn)流源；帶回路有效正常指示電路；并配以大型LCD顯示讀數(shù)，使儀器具有體積小、重量輕、外形美、易操作、測量速度快、精度高的特點。

特 點

* 采用九十年代推出的大規(guī)模集成電路作為儀器的主要部分，測量準確穩(wěn)定；

* 以大屏幕LCD顯示讀數(shù)，直觀清晰；

* 采用單個干電池供電，帶電池欠壓指示；

* 體積≤175mm X90mm X42mm，重量≤300g；

* 輕便手持式設計操作、測試簡便； *.特制之手握式探筆，球形探針、鍍金探針有效接觸被測材料及保護薄膜；

* 帶探頭與被測物質(zhì)接觸良好指示（LED） 、探頭帶抗靜電模塊；

* 單電源開關，推拉式探頭-主機接插件，操作極其簡便；

技 術 指 標

1. 測量范圍：

按方塊電阻量值大小分為二個量程檔：

○1 1.00～199.99Ω/□；

○2 10.0～1999.9Ω/□；

2. 恒流源：

測量過程誤差：≤±0.8%；

3. 模數(shù)轉(zhuǎn)換器：

量程：0～199.99mv；

分辨率：10μv；

方式：LCD大屏幕顯示；極性，超量程均自動顯示；小數(shù)點同步顯示；

4. 測量不確定度：

在整個量程范圍內(nèi)，測量不確定度≤5%

5. 四探針頭：

間距：1mm或3.8mm可選,偏差：≤2%；

針間絕緣電阻≥500MΩ；

6. 電源：9V疊層電池1節(jié)

北京北信科儀分析儀器有限公司

地址：北京市昌平區(qū)西三旗龍旗廣場2號樓

：李

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